Liveオンラインセミナー「DualBeam装置による最高品質のS/TEM 試料作製法」（5月20日 16時～・参加費無料）

FEIのDualBeam™ FIB/SEM装置の新技術革新により、磁性または非導電性試料といった従来では極めて分析が困難だった界面や物質からも、最高品質の試料がさらに容易に作製できるようになりました。Wileyは日本エフイー・アイ株式会社との協力により、この新技術について理解を深めていただくためのオンラインセミナー（ウェビナー）を開催する運びとなりました。

　このオンラインセミナーでお送りする内容 　

• 最新の検出技術とIn-Situ技術を応用することで、様々なシーンでの試料作製や異なる物質にどのように対応できるのか？
• 新技術が可能にする注目分野での分析向上と完成試料の品質向上
• 他の装置と比べDualBeamはナノスケール撮像用TEM試料の作製効率と品質がどれくらい向上するのか？

　講師　

村田 薫 氏（FEIの日本サイトにおけるSEM、FIB、デュアルビームのプロダクトマーケティングエンジニア ）

　日時　

2015年5月20日（水）16:00‐17：00

　ご参加方法　

無料でご参加いただけます。次のリンク先のサイトからお申込み下さい。
https://enq.itmedia.co.jp/on24/form/987713